深圳市世紀(jì)遠(yuǎn)景電子設(shè)備有限公司現(xiàn)提供日立S-3400N型掃描電子顯微鏡(SEM)的租賃服務(wù),助力科研與工業(yè)分析。日立S-3400N型SEM是一款高性能的掃描電子顯微鏡,具備高分辨率成像、快速成像能力、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)、考古學(xué)、地礦學(xué)、微電子工業(yè)等領(lǐng)域。
日立S-3400N型掃描電子顯微鏡設(shè)備特點(diǎn)
高分辨率成像:日立S-3400N型SEM具有高分辨率,一般為3.5~6nm,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的分辨率可達(dá)1nm。
放大倍數(shù)范圍廣:放大倍數(shù)變化范圍大,一般為15~200000倍。
多種信號(hào)檢測(cè):可以通過電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量,如通過調(diào)制改善圖像反差的寬容度。與X射線譜儀配接,可在觀察形貌的同時(shí)進(jìn)行微區(qū)成分分析。
動(dòng)態(tài)觀察:配置加熱、冷卻、拉伸等附件,可以在動(dòng)態(tài)過程中觀察樣品的變化。
日立掃描電子顯微鏡S--3400N型的特點(diǎn) |
1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能,包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 |
2. 在3kV低加速電壓時(shí)保證有10nm的分辨率。 |
3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。 |
4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺(tái),傾斜角度可達(dá)-20度~+90度,樣品zui高可達(dá)80mm。 |
5. 分析樣品倉可以同時(shí)安裝EDX , WDX 及EBSD。 |
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵,潔凈、高效。 |
日立S-3400N型掃描電子顯微鏡租賃服務(wù)優(yōu)勢(shì)
專業(yè)支持:深圳市世紀(jì)遠(yuǎn)景電子設(shè)備有限公司擁有專業(yè)的售前售后服務(wù)團(tuán)隊(duì),經(jīng)過20余年的沉淀,已在行業(yè)內(nèi)塑造了良好的口碑與知名度。
靈活租賃:提供靈活的租賃方案,滿足不同客戶的短期和長(zhǎng)期需求,幫助客戶降低設(shè)備購置成本。
設(shè)備維護(hù):公司負(fù)責(zé)設(shè)備的維護(hù)和保養(yǎng),確保設(shè)備在租賃期間的穩(wěn)定運(yùn)行,客戶無需擔(dān)心設(shè)備維護(hù)問題。
日立S-3400N型掃描電子顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域
材料科學(xué):觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌,分析材料的性能和質(zhì)量。
生物學(xué):研究細(xì)胞和組織的超微結(jié)構(gòu),進(jìn)行生物樣品的形態(tài)學(xué)分析。
地礦學(xué):分析礦物的成分和結(jié)構(gòu),研究地質(zhì)樣品的形成過程。
微電子工業(yè):檢測(cè)半導(dǎo)體器件的表面缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu),提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
日立掃描電子顯微鏡S--3400N型的技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目 | 描述 |
SE分辨率 | 3.0nm (30kV),高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式 |
BSE分辨率 | 4.0nm (30kV),低真空模式 |
加速電壓 | 0.3 ~ 30 kV |
低真空范圍 | 6 ~ 270 Pa |
最大樣品尺寸 | 直徑200mm |
樣品臺(tái) | I型 II型 |
X | 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm |
Y | 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm |
Z | 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm |
R | 360o 360o |
T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
最大樣品高度 | 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm) |
驅(qū)動(dòng)類型 | 手動(dòng) 五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
燈絲 | 預(yù)對(duì)中鎢燈絲 |
物鏡光欄 | 可移動(dòng)式4孔物鏡光欄 |
槍偏壓 | 固定比例偏壓、手動(dòng)偏壓和自動(dòng)4偏 |
檢測(cè)器 | 二次電子檢測(cè)器 高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測(cè)器 |
分析位置 | WD=10mm, TOA=35o |
控制 | 鼠標(biāo)、鍵盤,手動(dòng)旋鈕 |
自動(dòng)調(diào)校 | 自動(dòng)燈絲飽和、自動(dòng)4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸、自動(dòng)聚焦 消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度 |
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